LEEM-3 電界マッピング装置

簡単な説明：

工学技術では、電場における電子や荷電粒子の運動法則を研究するために、電極系の電場分布を知る必要があることがよくあります。たとえば、オシロスコープ管内の電子ビームの集束と偏向を調べるには、オシロスコープ管内の電極の電界分布を知る必要があります。電子管では、新しい電極の導入が電子の動きに与える影響を研究する必要があり、電界の分布も知る必要があります。一般的に、電場の分布を知るには、解析的手法とシミュレーション実験手法を用いることができます。しかし、いくつかの単純なケースでのみ、電界分布を解析手法で取得できます。一般的または複雑な電極システムの場合、通常はシミュレーション実験によって決定されます。シミュレーション実験法の欠点は、精度が高くないことですが、一般的な工学設計では、要件を満たすことができます。