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LCP-25 実験用エリプソメーター

簡単な説明:

手動楕円偏光計は、消光法を用いて膜の厚さと屈折率を測定し、試験工程における偏向と偏角を手動で調整します。エリプソメトリーは、固体基板上の誘電体薄膜の測定に広く用いられています。この方法では、膜の厚さを最も薄く、最も高い精度で測定できます。


製品詳細

製品タグ

仕様

説明 仕様
厚さ測定範囲 1nm~300nm
入射角の範囲 30º ~ 90º、誤差≤ 0.1º
偏光子と検光子の交差角 0度~180度
ディスク角度スケール スケールあたり2度
バーニヤの最小読み取り値 0.05度
光学中心高さ 152ミリメートル
作業ステージ直径 Φ50mm
全体寸法 730x230x290ミリメートル
重さ 約20kg

部品リスト

説明 数量
エリプソメーターユニット 1
He-Neレーザー 1
光電増幅器 1
光電池 1
シリコン基板上のシリカ膜 1
分析ソフトウェアCD 1
取扱説明書 1

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