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LCP-25実験用エリプソメーター

簡単な説明:

手動式楕円偏光計は、消光法を用いて膜の厚さと屈折率を測定し、測定工程における偏向角と偏向角度を手動で調整します。エリプソメトリーは、固体基板上の誘電体薄膜の測定に広く用いられています。膜厚測定法においては、極めて薄い膜まで、かつ高精度で測定することが可能です。


製品詳細

商品タグ

仕様

説明 仕様
厚さ測定範囲 1 nm ~ 300 nm
入射角の範囲 30º~90º、誤差≤0.1º
偏光子と検光子の交差角度 0度~180度
ディスクの角度スケール 2度/スケール
バーニアの最小読み取り値 0.05度
光学中心高さ 152 mm
作業ステージ直径 Φ 50 mm
全体寸法 730x230x290 mm
重さ 約20kg

部品リスト

説明 数量
エリプソメーターユニット 1
HeNeレーザー 1
光電増幅器 1
光電セル 1
シリコン基板上のシリカ膜 1
分析ソフトウェアCD 1
取扱説明書 1

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