LEEM-3静電場マッピング装置
工学技術では、電場内の電子または荷電粒子の運動則を研究するために、電極システムの電場分布を知る必要があることがよくあります。例えば、オシロスコープの管内の電子ビームの集束と偏向を研究するためには、オシロスコープの管内の電極の電界の分布を知る必要があります。電子管では、新しい電極の導入が電子の動きに与える影響を調べる必要があります。また、電界の分布を知る必要もあります。一般的に、電界の分布を調べるために、分析法とシミュレーション実験法を使用することができます。しかし、分析法によって電界分布を得ることができるのは、ごくわずかな単純なケースだけです。一般または複雑な電極システムの場合、通常はシミュレーション実験によって決定されます。シミュレーション実験法の欠点は、精度が高くないことですが、一般的なエンジニアリング設計では、要件を満たすことができます。
関数
1.シミュレーション法を使用して静電界を研究することを学びます。
2.電界の強さとポテンシャルの概念についての理解を深めます。
3.2つの等電位線と電界線をマッピングします の電極パターン 同軸ケーブルと1対の平行線。
仕様
説明 | 仕様 |
電源 | 0〜15 VDC、連続調整可能 |
デジタル電圧計 | 範囲-19.99V〜19.99 V、分解能0.01 V |
平行線電極 | 電極径20mm電極間の距離100mm |
同軸電極 | 中心電極の直径20mmリング電極の幅10mm電極間の距離80mm |
パーツリスト
項目 | 数量 |
主な電気ユニット | 1 |
導電性ガラスとカーボンペーパーのサポート | 1 |
プローブと針のサポート | 1 |
導電性ガラス板 | 2 |
接続線 | 4 |
カーボン紙 | 1袋 |
オプションの導電性ガラスプレート:集束電極と不均一な電界電極 | それぞれ |
取扱説明書 | 1(電子版) |
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