半導体レーザーの特性測定のためのLPT-10装置

半導体レーザーは、小型、高効率、長寿命、高速動作のため、幅広い用途があります。この種のデバイスの開発は、当初から光通信技術と密接に組み合わされてきました。これは、レーザーファイバー通信の最も重要な光源であり、通信の分野で最も急速に発展し、最も重要です。光情報処理、光ストレージ、光通信において重要な役割を果たすことが期待されています。コンピュータと外部機器、光結合とホログラフィ、測距、レーダーなどの側面が重要なアプリケーションになります。半導体レーザーは、レーザーファイバー通信技術の急速な発展に大きな可能性を秘めていることが期待できます。

実験

1.ビームの遠方界分布を測定し、その垂直および水平発散角を計算します。

2.電圧-電流特性を測定します。

3.出力光パワーと電流の関係を測定し、そのしきい値電流を取得します。

4.異なる温度での光パワーの出力と電流の関係を測定し、その温度特性を分析します。

5.出力光ビームの偏光特性を測定し、その偏光比を計算します。

6.オプションの実験：マルスの法則を確認します。

取扱説明書には、実験の構成、原理、段階的な説明、および実験結果の例が含まれています。 クリックしてください 実験理論 そして 内容 この装置についてのより多くの情報を見つけるため。

仕様

部品表