LIT-4 マイケルソン干渉計

簡単な説明：

マイケルソン干渉計は、物理実験室の基本的な機器です。プラットフォームの設計は、研究対象の材料を光路に追加しやすくするために使用されます。等傾斜干渉、等厚干渉、白色光干渉を観察し、単色光波長、ナトリウムイエロー二重線波長差、透明誘電体スライス、空気屈折率を測定できます。

この装置は、頑丈なフレームを備えた厚い鋼板で作られた 1 つの正方形のベースにマイケルソン干渉計が含まれています。光源はHe-Neレーザー、半導体レーザーへの変更も可能です。

マイケルソン干渉計は、等傾斜干渉、等厚干渉、白色光干渉などの二光束干渉現象を観測することで知られています。これは、波長、小光路距離、透明媒体の屈折率の正確な測定に使用されています。