LIT-4マイケルソン干渉計

簡単な説明：

マイケルソン干渉計は、物理学実験室における基本的な計測機器です。プラットフォームの設計は、研究対象物を光路に追加しやすくするために用いられます。この干渉計は、等傾斜干渉、等厚干渉、白色光干渉の観測、単色光の波長測定、ナトリウム黄色二重線の波長差測定、透明誘電体スライスの測定、空気の屈折率測定が可能です。

この装置は、厚い鋼板と頑丈なフレームで構成された正方形の台座上にマイケルソン干渉計を備えています。光源にはHe-Neレーザーを使用していますが、半導体レーザーに変更することも可能です。

マイケルソン干渉計は、等傾斜干渉、等厚干渉、白色光干渉などの2光束干渉現象を観測することで知られています。波長、光路長、透明媒体の屈折率などの精密測定に用いられてきました。