LEEM-3 電界マッピング装置

簡単な説明：

工学技術においては、電場中の電子や荷電粒子の運動法則を研究するために、電極系の電場分布を知ることがしばしば必要となる。例えば、オシロスコープ管内の電子ビームの集束と偏向を研究するためには、オシロスコープ管内の電極の電場分布を知る必要がある。電子管においては、新しい電極の導入が電子の運動に及ぼす影響を研究する必要があり、その際にも電場分布を知る必要がある。一般的に、電場分布を求めるには、解析的手法とシミュレーション実験的手法が用いられる。しかし、解析的手法で電場分布を求めることができるのは、ごく一部の単純なケースに限られる。一般的または複雑な電極系の場合、通常はシミュレーション実験によって決定される。シミュレーション実験的手法の欠点は精度が低いことであるが、一般的な工学設計においては、要求を満たすことができる。