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LCP-27回折強度の測定

簡単な説明:


製品の詳細

製品タグ

説明

実験システムは、主に実験用光源、回折板、強度記録計、コンピューター、操作ソフトなど、いくつかの部品で構成されています。コンピュータインターフェースを介して、実験結果は光学プラットフォームのアタッチメントとして使用でき、実験としてのみ使用することもできます。このシステムには、光強度を測定するための光電センサーと高精度の変位センサーがあります。グレーティング定規は、変位を測定し、回折強度の分布を正確に測定できます。コンピュータがデータの取得と処理を制御し、測定結果を理論式と比較することができます。

 

実験

1.シングルスリット、マルチスリット、多孔質およびマルチ長方形回折のテスト、回折強度の法則は実験条件によって変化します

2.コンピュータを使用して単一スリットの相対強度と強度分布を記録し、単一スリット回折の幅を使用して単一スリットの幅を計算します。

3.複数のスリット、長方形の穴、円形の穴の回折の強度分布を観察する

4.シングルスリットのフラウンホーファー回折を観察する

5.光強度の分布を決定する

 

仕様

項目

仕様

He-Neレーザー > 1.5 mW @ 632.8 nm
シングルスリット 0.01mmの精度で0〜2mm(調整可能)
画像測定範囲 0.03 mmのスリット幅、0.06mmのスリット間隔
射影参照格子 0.03 mmのスリット幅、0.06mmのスリット間隔
CCDシステム 0.03 mmのスリット幅、0.06mmのスリット間隔
マクロレンズ シリコンフォトセル
AC電源電圧 200mm
測定精度 ±0.01mm

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